Δοκιμή CIPS — Δοκιμή μοναδιαίας ρίζας πινάκων με διασταυρούμενη αύξηση IPS
Η δοκιμή CIPS, που εισήχθη από τον Pesaran (2007), είναι μια δοκιμή μοναδιαίας ρίζας πινάκων δεύτερης γενιάς σχεδιασμένη για πίνακες στους οποίους οι διασταυρούμενες μονάδες μοιράζονται αόρατους κοινούς παράγοντες που προκαλούν διασταυρούμενη εξάρτηση. Επαυξάνοντας κάθε μεμονωμένη παλινδρόμηση ADF με διασταυρούμενους μέσους όρους και τις υστερήσεις τους, η δοκιμή CIPS λαμβάνει υπόψη αυτή την εξάρτηση και παράγει αξιόπιστα συμπεράσματα όπου οι δοκιμές πρώτης γενιάς, όπως η αρχική δοκιμή IPS, αποτυγχάνουν. Εφαρμόζεται ευρέως σε μακροοικονομικούς και χρηματοοικονομικούς πίνακες όπου οι διαταραχές διαδίδονται μεταξύ χωρών ή περιοχών.
Διαβάστε ολόκληρη τη μέθοδο
Συνδεθείτε με δωρεάν λογαριασμό για να διαβάσετε αυτή την ενότητα.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Πηγές
- Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951 ↗
Πώς να παραπέμψετε σε αυτή τη σελίδα
ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/el/econometrics/cips-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Διαγώνιος Επαυξημένος Έλεγχος Dickey-Fuller (CADF)Οικονομετρία↔ compare
- Δοκιμή μοναδιαίας ρίζας πάνελ Im-Pesaran-Shin (IPS)Οικονομετρία↔ compare
- PANIC Test: Ανάλυση Μοναδιαίας Ρίζας σε Πάνελ με Αποσύνθεση Κοινών ΠαραγόντωνΟικονομετρία↔ compare
Αναφέρεται από
Εντοπίσατε πρόβλημα σε αυτή τη σελίδα; Αναφέρετέ το ή προτείνετε διόρθωση →