Scholar
Gate
Βοηθός
Όλα τα πεδία
▾
EL ▾
Σχετικά
Ερώτημα & Σχεδιασμός
Δειγματοληψία & Μέτρηση
Ανάλυση
Αιτιότητα & Τεκμηρίωση
Παρουσίαση & Δεοντολογία
Αρχική
/
Συγγραφέας
David Lowe
Μέθοδοι που αποδίδονται σε αυτόν τον συγγραφέα.
1 μέθοδος
Όραση Υπολογιστών
1
SIFT Feature Detection
1999