EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) is a synchrotron-based X-ray spectroscopy technique that measures the local geometric and electronic structure around a specific atom in any material, crystal or amorphous. Discovered by Sayers, Stern, and Lytle in 1971, EXAFS reveals interatomic distances, coordination numbers, and disorder in the atomic environment by analyzing oscillations in the X-ray absorption spectrum above an absorption edge.
Registre font
Les citacions es copien textualment del registre font del mètode. No s'infereix cap verificació a nivell de reclam d'elles.
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. · DOI 10.1103/PhysRevLett.27.1204
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. · DOI 10.1103/PhysRevB.11.4836
Reclamacions curades
Les reclamacions s'han persistit al registre de proves, cadascuna amb la seva pròpia avaluació.
Aquesta vista no inventa una avaluació de reclam quan el registre no en té cap.
Mètodes relacionats
Generat a partir del gràfic de mètodes i mostrat com a relacions suggerides per la màquina; no s'infereix cap reclamació d'evidència.