পদ্ধতির প্রমাণ রেকর্ড
Short-form test-retest reliability
Short-form test-retest reliability quantifies how consistently an abbreviated version of a measurement instrument produces the same scores across two administrations separated by a defined time interval. It is a critical validation step whenever a full-length scale is shortened for practical use, confirming that item reduction has not degraded temporal stability.
উৎস রেকর্ড
পদ্ধতির উৎস রেকর্ড থেকে উদ্ধৃতিগুলি হুবহু অনুলিপি করা হয়েছে। এগুলি থেকে কোনও দাবি-স্তরের যাচাইকরণ অনুমান করা হয় না।
Short-form Test-Retest Reliability
শ্রেণীবদ্ধ পদ্ধতির রেকর্ড · latent-structure / psychometrics
- Smith, G. T., McCarthy, D. M., & Anderson, K. G. (2000). On the sins of short-form development. Psychological Assessment, 12(1), 102–111. · DOI 10.1037/1040-3590.12.1.102
- Nunnally, J. C., & Bernstein, I. H. (1994). Psychometric Theory (3rd ed.). McGraw-Hill. · ISBN 978-0070474659
কিউরেটেড দাবি
প্রমাণ লেজারে দাবিগুলি সংরক্ষিত আছে, প্রতিটির নিজস্ব মূল্যায়ন সহ।
এখনও কোনও কিউরেটেড দাবি নেই
প্রমাণ লেজারে কিছু না থাকলে এই ভিউ কোনও দাবি মূল্যায়ন তৈরি করে না।
সম্পর্কিত পদ্ধতি
পদ্ধতি গ্রাফ থেকে তৈরি এবং মেশিন-প্রস্তাবিত সম্পর্ক হিসাবে দেখানো হয়েছে — কোনও প্রমাণ দাবি অনুমান করা হয় না।